Näytetään tulokset 1 - 10 / 82511
tulosta / sivu
Mitä julkaisutietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi

One-Antenna Radiation Pattern Measurement of On-Wafer Antennas in Probe Station Environment

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
Zheng, Jianfang; Ala-Laurinaho, Juha; Taylor, Zachary; Räisänen, Antti
Progress In Electromagnetics Research PIER2020

Compact 3-D on-wafer radiation pattern measurement system for 60 GHz antennas

Vertaisarvioitu
Ranvier, Sylvain; Kyrö, Mikko; Icheln, Clemens; Luxey, Cyril; Staraj, Robert; Vainikainen, Pertti
Microwave and Optical Technology Letters2009

A novel method for millimeter-wave on-wafer characterization of reflect patch antennas

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/LAWP.2006.889554
Farinelli, Paola; Vähä-Heikkilä, Tauno; Säily, Jussi; Sorrentino, Roberto; Tuovinen, Jussi
IEEE Antennas and Wireless Propagation Letters2006

Millimetre wave on-wafer measurements

Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Varis, Jussi; Kantanen, Mikko; Tuovinen, Jussi; Karttaavi, Timo;...
URSI XXVI Convention on Radio Science and 2nd Finnish Wireless Communications Workshop, FWCW 20012001

W-band on-wafer noise parameter measurements

Vertaisarvioitu
Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Varis, Jussi; Kantanen, Mikko; Tuovinen, Jussi; Karttaavi, Timo;...
31st European Microwave Conference, EuMC 20012001

V-band on-wafer noise parameter measurements

Lahdes, Manu; Tuovinen, Jussi
European Gallium Arsenide and Related III-V Compounds Application Symposium, GAAS '981998

Joint Research on Scatterometry and AFM Wafer Metrology

Avoin saatavuus
DOI
10.1063/1.3657910
Bodermann Bernd, Buhr Egbert, Danzebrink Hans-Ulrich, Bär Markus, Scholze Frank, Krumrey Michael, Wu...
American Institute of Physics2011

On-wafer noise parameter measurements at W-band

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/TMTT.2003.812554
Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Kantanen, Mikko; Tuovinen, Jussi
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques2003

On-wafer noise parameter measurements at 60 GHz

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
Lahdes, Manu; Sipilä, Markku; Tuovinen, Jussi
IEEE Workshop on Experimentally based FET Device Modelling & Related Nonlinear Circuit Design1997

Hermetic wafer level packaging of MEMS components using through silicon via and wafer to wafer bonding technologies

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/ECTC.2013.6575770
Zoschke, K.; Manier, C.-A.; Wilke, M.; Jürgensen, N.; Oppermann, H.; Ruffieux, D.; Dekker, James; He...
Electronic Components and Technology Conference (ECTC)2013

One-Antenna Radiation Pattern Measurement of On-Wafer Antennas in Probe Station Environment

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
2020

Compact 3-D on-wafer radiation pattern measurement system for 60 GHz antennas

Vertaisarvioitu
2009

A novel method for millimeter-wave on-wafer characterization of reflect patch antennas

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/LAWP.2006.889554
2006

Millimetre wave on-wafer measurements

2001

W-band on-wafer noise parameter measurements

Vertaisarvioitu
2001

V-band on-wafer noise parameter measurements

1998

Joint Research on Scatterometry and AFM Wafer Metrology

Avoin saatavuus
DOI
10.1063/1.3657910
2011

On-wafer noise parameter measurements at W-band

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/TMTT.2003.812554
2003

On-wafer noise parameter measurements at 60 GHz

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
1997

Hermetic wafer level packaging of MEMS components using through silicon via and wafer to wafer bonding technologies

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/ECTC.2013.6575770
2013