W-band on-wafer noise parameter measurements
Julkaisuvuosi
2001
Tekijät
Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Varis, Jussi; Kantanen, Mikko; Tuovinen, Jussi; Karttaavi, Timo; Hakojärvi, Hannu
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
31st European Microwave Conference, EuMC 2001
Kustantaja
CMP Europe Ltd
Sivut
355-358
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tunnistettu aihe
[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei