On-wafer noise parameter measurements at 60 GHz
Julkaisuvuosi
1997
Tekijät
Lahdes, Manu; Sipilä, Markku; Tuovinen, Jussi
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
IEEE Workshop on Experimentally based FET Device Modelling & Related Nonlinear Circuit Design
Kustantaja
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
Sivut
13.1-13.6
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tunnistettu aihe
[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei