Näytetään tulokset 1 - 10 / 339
tulosta / sivu
Mitä julkaisutietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
 Julkaisujen tiedon ikoni

Novel microelectromechanical references for electric metrology

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
Kyynäräinen, Jukka; Oja, Aarne; Seppä, Heikki
Symposium on Microtechnology in Metrology and Metrology in Microsystems2000 Julkaisujen tiedon ikoni

Structural Metrology of SWCNTs by Electron Diffraction

Vertaisarvioitu
Jiang, Hua; Nasibulin, Albert G.; Brown, David P.; Chassaing, Delphine; Kauppinen, Esko I.
-2007 Julkaisujen tiedon ikoni

METefnet: developments in metrology for moisture in materials

Avoin saatavuus
DOI
10.1051/metrology/20150015003
Bell, Stephanie; Aro, Rudolf; Arpino, Fausto; Aytekin, Seda; Cortellessa, Gino; Dell'Isola, Marco; F...
17th International Congress of Metrology, CIM 20152015 Julkaisujen tiedon ikoni

Metrology for humidity at high temperatures and transient conditions

Avoin saatavuus
DOI
10.1051/metrology/20150015015
Heinonen, Martti; Cavallarin, L.; Dell'Isola, M.; Ebert, V.; Fernicola, V.; Georgin, E.; Hudoklin, D...
17th International Congress of Metrology, CIM 20152015 Julkaisujen tiedon ikoni

Over-the-air testing metrology of 5G radios

Vertaisarvioitu
DOI
10.1049/pbte099e_ch10
Fan, Wei; Kyösti, Pekka; Jing, Ya ;Wang, Zhiqin
Institution of engineering and technology2021 Julkaisujen tiedon ikoni

Joint Research on Scatterometry and AFM Wafer Metrology

Avoin saatavuus
DOI
10.1063/1.3657910
Bodermann Bernd, Buhr Egbert, Danzebrink Hans-Ulrich, Bär Markus, Scholze Frank, Krumrey Michael, Wu...
American Institute of Physics2011 Julkaisujen tiedon ikoni

SmartCom - Key findings for digitalisation in metrology

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/MetroInd4.0IoT51437.2021.9488450
Heeren, Wiebke; Muller, Bernd; Miele, Gianfranco; Mustapaa, Tuukka; Hutzschenreuter, Daniel; Brown, ...
2021 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, MetroInd 4.0 and IoT 2021 - ...2021 Julkaisujen tiedon ikoni

Metrology for ammonia in ambient air:concept and first results of the EMRP project MetNH3

Pogany, Andrea; Vaittinen, Olavi; ,
International Congress of Metrology2015 Julkaisujen tiedon ikoni

METefnet : developments in metrology for moisture in materials

Avoin saatavuus
DOI
10.1051/metrology/201515003
Bell,Stephanie; Aro, Rudolf; Arpino, Fausto; Aytekin, Seda; Cortellessa, Gino; Dell'Isola, Marco; Fe...
International Congress of Metrology2015 Julkaisujen tiedon ikoni

Digital calibration certificate in metrology

Vertaisarvioitu
Mustapää, Tuukka; Wiedenhöfer, Thomas; Brown, Clifford; Viitala, Raine; Nikander, Pekka; Kuosmanen, ...
Proceedings of the 20th International Conference of the European Society for Precision Engineering a...2020

Novel microelectromechanical references for electric metrology

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
2000

Structural Metrology of SWCNTs by Electron Diffraction

Vertaisarvioitu
2007

METefnet: developments in metrology for moisture in materials

Avoin saatavuus
DOI
10.1051/metrology/20150015003
2015

Metrology for humidity at high temperatures and transient conditions

Avoin saatavuus
DOI
10.1051/metrology/20150015015
2015

Over-the-air testing metrology of 5G radios

Vertaisarvioitu
DOI
10.1049/pbte099e_ch10
2021

Joint Research on Scatterometry and AFM Wafer Metrology

Avoin saatavuus
DOI
10.1063/1.3657910
2011

SmartCom - Key findings for digitalisation in metrology

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/MetroInd4.0IoT51437.2021.9488450
2021

Metrology for ammonia in ambient air:concept and first results of the EMRP project MetNH3

2015

METefnet : developments in metrology for moisture in materials

Avoin saatavuus
DOI
10.1051/metrology/201515003
2015

Digital calibration certificate in metrology

Vertaisarvioitu
2020