Structural Metrology of SWCNTs by Electron Diffraction

Julkaisuvuosi

2007

Tekijät

Jiang, Hua; Nasibulin, Albert G.; Brown, David P.; Chassaing, Delphine; Kauppinen, Esko I.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Kauppinen Esko

Jiang Hua

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli:

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

First International forum on metrology, standardization and industrial quality of nanotube, Rio de Janeiro, Brazil, June 22, 2007

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Rinnakkaistallennettu

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä