undefined

Photo-assisted Cl-, Br- and I- production in caesium sputter ion source

Julkaisuvuosi

2023

Tekijät

Hossain, A.; Tarvainen, O.; Reponen, M.; Kronholm, R.; Julin, J.; Kalvas, T.; Toivanen, V.; Kivekäs, M.; Laitinen, M.

Tiivistelmä

We have measured the effect of 445 nm, high power diode laser, directed on the cathode of a SNICS ion source on the extracted beam currents of Cl-, Br- and I- ion beams. Beam current enhancement factors up to 9 were observed in Cs-depleted operation mode of the ion source. The photo-assisted enhancement is shown to scale with the laser power and depend strongly on the neutral Cs flux into the ion source. The effect of the laser diminishes with increasing Cs oven temperature. We present a qualitative model, supported by cathode current measurement, arguing that photoelectron emission and Cs coverage of the cathode surface could explain the observations.
Näytä enemmän

Organisaatiot ja tekijät

Jyväskylän yliopisto

Julin Jaakko Orcid -palvelun logo

Reponen Mikael Orcid -palvelun logo

Kivekäs Mikko Orcid -palvelun logo

Laitinen Mikko Orcid -palvelun logo

Kalvas Taneli Orcid -palvelun logo

Toivanen Ville Orcid -palvelun logo

Hossain Akbar

Kronholm Risto

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Volyymi

18

Numero

07

Artikkelinumero

C07002

Julkaisu­foorumi

60710

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdistynyt kuningaskunta

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1088/1748-0221/18/07/C07002

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä