Investigating the Impact of Radiation-Induced Soft Errors on the Reliability of Approximate Computing Systems
Julkaisuvuosi
2020
Tekijät
Matana Luza, Lucas; Söderström, Daniel; Tsiligiannis, Georgios; Puchner, Helmut; Cazzaniga, Carlo; Sanchez, Ernesto; Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi
Abstrakti:
Approximate Computing (AxC) is a well-known paradigm able to reduce the computational and power overheads of a multitude of applications, at the cost of a decreased accuracy. Convolutional Neural Networks (CNNs) have proven to be particularly suited for AxC because of their inherent resilience to errors. However, the implementation of AxC techniques may affect the intrinsic resilience of the application to errors induced by Single Events in a harsh environment. This work introduces an experimental study of the impact of neutron irradiation on approximate computing techniques applied on the data representation of a CNN.
Näytä enemmänOrganisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
Ei-vertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Lehti/Sarja
Proceedings : IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
Kustantaja
ISSN
ISBN
Julkaisufoorumi
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object]
Julkaisumaa
Yhdysvallat (USA)
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Kyllä
DOI
10.1109/DFT50435.2020.9250865
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä