Kernelized-Likelihood Ratio Tests for Binary Phase-Shift Keying Signal Detection
Julkaisuvuosi
2020
Tekijät
Salehi, Ahmadreza;Zaimbashi, Amir;Valkama, Mikko
Organisaatiot ja tekijät
Tampereen yliopisto
Valkama Mikko
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1109/TCCN.2020.3028768
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä