undefined

Simultaneous Noise and Impedance Fitting to Transition-Edge Sensor Data Using Differential Evolution

Julkaisuvuosi

2020

Tekijät

Helenius, A. P.; Puurtinen, T. A.; Kinnunen, K. M.; Maasilta, I. J.

Tiivistelmä

We discuss a robust method to simultaneously fit a complex multi-body model both to the complex impedance and the noise data for transition-edge sensors. It is based on a differential evolution (DE) algorithm, providing accurate and repeatable results with only a small increase in computational cost compared to the Levenberg–Marquardt (LM) algorithm. Test fits are made using both DE and LM methods, and the results compared with previously determined best fits, with varying initial value deviations and limit ranges for the parameters. The robustness of DE is demonstrated with successful fits even when parameter limits up to a factor of 10 from the known values were used. It is shown that the least squares fitting becomes unreliable beyond a 10% deviation from the known values.
Näytä enemmän

Organisaatiot ja tekijät

Jyväskylän yliopisto

Helenius Ari

Maasilta Ilari Orcid -palvelun logo

Kinnunen Kimmo Orcid -palvelun logo

Puurtinen Tuomas

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Volyymi

200

Numero

5-6

Sivut

213-219

Julkaisu­foorumi

60885

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Kyllä

Julkaisukanavan avoin saatavuus

Osittain avoin julkaisukanava

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1007/s10909-020-02489-0

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä