Estimating Terrestrial Neutron-Induced SEB Cross-Sections and FIT Rates for High-Voltage SiC Power MOSFETs
Julkaisuvuosi
2019
Tekijät
Ball, D. R.; Sierawski, B. D.; Galloway, K. F.; Johnson, R. A.; Alles, M. L.; Sternberg, A. L.; Witulski, A. F.; Reed, R. A.; Schrimpf, R. D.; Javanainen, Arto; Lauenstein, J-M.
Organisaatiot ja tekijät
Jyväskylän yliopisto
Javanainen Arto 
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti/Sarja
Kustantaja
Volyymi
66
Numero
1
Sivut
337-343
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object]
Julkaisumaa
Yhdysvallat (USA)
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1109/TNS.2018.2885734
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä