Study of Structure and Failure Mechanisms in ACA Interconnection Using SEM

Julkaisuvuosi

2012

Tekijät

Frisk, Laura

Organisaatiot ja tekijät

Tampereen yliopisto

Frisk Laura

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Kokoomateos

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

Scanning Electron Microscopy

Emojulkaisun toimittajat

Viacheslav Kazmiruk

Kustantaja

InTech

Sivut

491-516

ISBN

978-953-51-0092-8

Julkaisufoorumi

7044

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Kyllä

Julkaisukanavan avoin saatavuus

Kokonaan avoin julkaisukanava

Rinnakkaistallennettu

Ei tietoa

Muut tiedot

Tieteenalat

Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka

Julkaisumaa

Kroatia

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa