Contactless analysis of surface passivation and charge transfer at the TiO <sub>2</sub>-Si interface
Julkaisuvuosi
2024
Tekijät
Khan, Ramsha; Liu, Xiaolong; Vähänissi, Ville; Ali-Löytty, Harri; Pasanen, Hannu P.; Savin, Hele; Tkachenko, Nikolai V.;
Organisaatiot ja tekijät
Tampereen yliopisto
Khan Ramsha
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Kustantaja
Volyymi
26
Numero
21
Sivut
15268-15276
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
3
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Osittain avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Materiaalitekniikka
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1039/D4CP00992D
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä