undefined

Regularity or Anomaly? On The Use of Anomaly Detection for Fine-Grained JIT Defect Prediction

Julkaisuvuosi

2022

Tekijät

Lomio, Francesco; Pascarella, Luca; Palomba, Fabio; Lenarduzzi, Valentina;

Organisaatiot ja tekijät

Oulun yliopisto

Lenarduzzi Valentina

Tampereen yliopisto

Lomio Francesco Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Kustantajan version lisenssi

Muu lisenssi

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Rinnakkaistallenteen lisenssi

Muu lisenssi

Muut tiedot

Tieteenalat

Tietojenkäsittely ja informaatiotieteet

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1109/SEAA56994.2022.00049

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä