undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Multiparametric Profiling of Engineered Nanomaterials: Unmasking the Surface Coating Effect

Julkaisuvuosi

2020

Tekijät

Gallud, Audrey;Delaval, Mathilde;Kinaret, Pia;Kinaret, Pia;Marwah, Veer Singh;Marwah, Veer Singh;Fortino, Vittorio;Ytterberg, Jimmy;Zubarev, Roman;Skoog, Tiina;Kere, Juha;Correia, Manuel;Loeschner, Katrin;Al-Ahmady, Zahraa;Al-Ahmady, Zahraa;Kostarelos, Kostas;Kostarelos, Kostas;Ruiz, Jaime;Astruc, Didier;Monopoli, Marco;Handy, Richard;Moya, Sergio;Savolainen, Kai;Alenius, Harri;Alenius, Harri;Greco, Dario;Greco, Dario;Fadeel, Bengt
Näytä enemmän

Organisaatiot ja tekijät

Tampereen yliopisto

Greco Dario

Kinaret Pia

Marwah Veer Singh

Itä-Suomen yliopisto

Fortino Vittorio

Helsingin yliopisto

Greco Dario

Alenius Harri

Kinaret Pia

Marwah Veer Singh

Fortino Vittorio

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

Advanced science

Emojulkaisun nimi

Advanced Science

Volyymi

7

Numero

22

Artikkelinumero

2002221

ISSN

2198-3844

Julkaisu­foorumi

82757

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Kyllä

Julkaisukanavan avoin saatavuus

Kokonaan avoin julkaisukanava

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Lääketieteen tekniikka; Nanoteknologia; Lääketieteen bioteknologia; Biokemia, solu- ja molekyylibiologia; Biolääketieteet

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Saksa

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1002/advs.202002221

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä