undefined

RBS and PIXE analysis of chlorine contamination in ALD-Grown TiN films on silicon

Julkaisuvuosi

2013

Tekijät

Meersschaut, J.; Käyhkö, Marko; Lenka, H.P.; Witters, T.; Zhao, Q.; Vantomme, A.; Vandervorst, W.

Organisaatiot ja tekijät

Jyväskylän yliopisto

Käyhkö Marko Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1063/1.4802317

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä