(poster) Robustness of electrical quality of ion implanted black silicon emitters: Comparison between different ion implantation service providers
Julkaisuvuosi
2024
Tekijät
Morozova, Olga; Chen, Kexun; Radfar, Behrad; Kentsch, Ulrich; Antwis, Luke; Savin, Hele; Vähänissi, Ville
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Abstrakti
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Yleisö
Tieteellinen
Julkaisukanavan tiedot
Konferenssi
Proceedings (EU PVSEC)
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Materiaalitekniikka
Avainsanat
[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kotimainen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei