undefined

Evaluation of X-ray fluorescence for analysing critical elements in three electronic waste matrices: A comprehensive comparison of analytical techniques

Julkaisuvuosi

2024

Tekijät

Lancaster, Shaun T.; Sahlin, Eskil; Oelze, Marcus; Ostermann, Markus; Vogl, Jochen; Laperche, Valérie; Touze, Solène; Ghestem, Jean-Philippe; Dalencourt, Claire; Gendre, Régine; Stammeier, Jessica; Klein, Ole; Pröfrock, Daniel; Košarac, Gala; Jotanovic, Aida; Bergamaschi, Luigi; Di Luzio, Marco; D’Agostino, Giancarlo; Jaćimović, Radojko; Eberhard, Melissa; Feiner, Laura; Trimmel, Simone; Rachetti, Alessandra; Sara-Aho, Timo; Roethke, Anita; Michaliszyn, Lena; Pramann, Axel; Rienitz, Olaf; Irrgeher, Johanna
Näytä enemmän

Organisaatiot ja tekijät

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Kustantaja

Elsevier

Volyymi

190

Sivut

496-505

Julkaisu­foorumi

68911

Julkaisufoorumitaso

3

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Kyllä

Julkaisukanavan avoin saatavuus

Osittain avoin julkaisukanava

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Ympäristötiede

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1016/j.wasman.2024.10.015

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä