Evaluation of X-ray fluorescence for analysing critical elements in three electronic waste matrices: A comprehensive comparison of analytical techniques
Julkaisuvuosi
2024
Tekijät
Lancaster, Shaun T.; Sahlin, Eskil; Oelze, Marcus; Ostermann, Markus; Vogl, Jochen; Laperche, Valérie; Touze, Solène; Ghestem, Jean-Philippe; Dalencourt, Claire; Gendre, Régine; Stammeier, Jessica; Klein, Ole; Pröfrock, Daniel; Košarac, Gala; Jotanovic, Aida; Bergamaschi, Luigi; Di Luzio, Marco; D’Agostino, Giancarlo; Jaćimović, Radojko; Eberhard, Melissa; Feiner, Laura; Trimmel, Simone; Rachetti, Alessandra; Sara-Aho, Timo; Roethke, Anita; Michaliszyn, Lena; Pramann, Axel; Rienitz, Olaf; Irrgeher, Johanna
Näytä enemmänOrganisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti
Kustantaja
Volyymi
190
Sivut
496-505
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
3
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Osittain avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Ympäristötiede
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1016/j.wasman.2024.10.015
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä