undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Etching-Based Measurement Error Compensation for Eddy Current Displacement Measurement

Julkaisuvuosi

2024

Tekijät

Kinnunen, Kalle; Viitala, Raine

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Viitala Raine Orcid -palvelun logo

Kinnunen Kalle Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference

Emojulkaisun nimi

I2MTC 2024 - Instrumentation and Measurement Technology Conference Instrumentation and Measurement for Sustainable Future, Proceedings

Konferenssi

IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference

Kustantaja

IEEE

ISSN

2642-2077

ISBN

979-8-3503-8090-3

Julkaisu­foorumi

88750

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Kone- ja valmistustekniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1109/I2MTC60896.2024.10561096

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä