Substrate effects in silicon RFIC and MCM technologies.
Julkaisuvuosi
2002
Tekijät
Riihisaari, T
Organisaatiot ja tekijät
Ilmatieteen laitos
Riihisaari T
Julkaisutyyppi
OKM:n julkaisutyyppiluokitus
G4 Monografiaväitöskirja
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei tietoa
Rinnakkaistallennettu
Ei tietoa
Muut tiedot
Tieteenalat
Geotieteet
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei tietoa
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei tietoa
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä