Comparing novel small-angle x-ray scattering approaches for absolute size and number concentration measurements of spherical SiO<sub>2</sub> particles to established methods
Julkaisuvuosi
2024
Tekijät
Schürmann, Robin; Gaál, Anikó; Sikora, Aneta; Ojeda, David; Bartczak, Dorota; Goenaga-Infante, Heidi; Korpelainen, Virpi; Sauvet, Bruno; Deumer, Jérôme; Varga, Zoltán; Gollwitzer, Christian
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti
Volyymi
35
Numero
38
Artikkelinumero
385701
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
2
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Osittain avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Teknillinen kemia, kemian prosessitekniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Kyllä
DOI
10.1088/1361-6528/ad568b
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä