Submicrometer resolution distance meter based on synthetic wavelength interferometry
Julkaisuvuosi
2011
Tekijät
Azouigui, S.; Badr, T.; Wallerand, J.-P.; Juncar, P.; van den Berg, S.; Jokela , J.
Julkaisukanavan tiedot
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei tietoa
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei tietoa
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei tietoa
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä