Developing a Test Suite for Evaluating IEC 61499 Application Portability
Julkaisuvuosi
2023
Tekijät
Xavier, Midhun; Laikh, Tatiana; Patil, Sandeep; Vyatkin, Valeriy
Organisaatiot ja tekijät
Aalto-yliopisto
Vyatkin Valeriy 
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
2023 IEEE 32nd International Symposium on Industrial Electronics, ISIE 2023 - Proceedings
Kustantaja
Volyymi
2023-June
ISSN
ISBN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1109/ISIE51358.2023.10228154
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä