Role of chemical disorder on radiation-induced defect production and damage evolution in NiFeCoCr
Julkaisuvuosi
2022
Tekijät
Zhou, Yufan; Velisa, Gihan; San, Saro; Crespillo, Miguel L.; Fan, Zhe; Bei, Hongbin; Weber, William J.; Xiu, Pengyuan; Wang, Lumin; Tuomisto, Filip; Ching, Wai-Yim; Zhang, Yanwen
Organisaatiot ja tekijät
Helsingin yliopisto
Tuomisto Filip
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Volyymi
565
Artikkelinumero
153689
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
2
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Osittain avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Rinnakkaistallenteen lisenssi
CC BY NC ND
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Julkaisumaa
Alankomaat
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1016/j.jnucmat.2022.153689
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä