SIMS- and NRA-measurements of depth profiles of implanted ions
Julkaisuvuosi
1992
Tekijät
Likonen, Jari; Hautala, Mikko
Organisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Likonen Jari
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
8th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VIII)
Kustantaja
Wiley
Sivut
415-418
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei tietoa
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei