Applicability of FTIR/PAS depth profiling for the study of coated papers
Julkaisuvuosi
1998
Tekijät
Halttunen, J.; Tenhunen, Jussi; Saarinen, T.; Stenius, Per
Organisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Tenhunen Jussi
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Posteri
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Yleisö
Tieteellinen
Julkaisukanavan tiedot
Konferenssi
3rd International Symposium on Advanced Infrared and Raman Spectroscopy, AIRS III
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei