undefined

Cryogenic on-wafer measurements at W-band and at 20-295 K

Julkaisuvuosi

2003

Tekijät

Vähä-Heikkilä, Tauno; Varis, Jussi; Hakojärvi, Hannu; Tuovinen, Jussi

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Varis Jussi

Vähä-Heikkilä Tauno

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

ESA Conference Proceedings

Konferenssi

3rd ESA Workshop On Millimetre Wave Technology and Applications

Kustantaja

European Space Agency (ESA)

Volyymi

212

Sivut

435-439

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Ei