Development of a NIR device for measuring varnish thickness on-line
Julkaisuvuosi
2003
Tekijät
Anduaga, J.; Mayora, K.; Garmendia, I.; Munoz, M.; Niemelä, Pentti; Tornberg, Jouni; Hietala, Eero; Manero, F.
Organisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Hietala Eero
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Konferenssi
11th International Conference on Near-Infrared Spectroscopy, NIR 2003
Kustantaja
NIR Publications
Artikkelinumero
P.8.16
Sivut
1105-1109
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei