undefined

Very wideband automated on-wafer noise figure and gain measurements at 50-110 GHz

Julkaisuvuosi

2003

Tekijät

Vähä-Heikkilä, Tauno; Lahdes, Manu; Kantanen, Mikko; Karttaavi, Timo; Tuovinen, Jussi

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Lahdes Manu

Kantanen Mikko Orcid -palvelun logo

Vähä-Heikkilä Tauno

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Ei