Wideband cryogenic on-wafer measurements at 20 - 295 K and 50-110 GHz
Julkaisuvuosi
2003
Tekijät
Vähä-Heikkilä, Tauno; Varis, Jussi; Hakojärvi, Hannu; Tuovinen, Jussi
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
33rd European Microwave Conference, EuMC 2003
Kustantaja
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
Sivut
1167-1170
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1109/EUMA.2003.341147
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei