undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Verification of cryogenic on-wafer measurements for space applications

Julkaisuvuosi

2003

Tekijät

Karvonen, Anna; Varis, Jussi; Hakojärvi, Hannu; Tuovinen, Jussi

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Karvonen Anna

Hakojärvi Hannu

Tuovinen Jussi

Varis Jussi

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Ei-vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

54th International Astronautical Congress

Konferenssi

54th International Astronautical Congress of the International Astronautical Federation, the International Academy of Astronautics, and the International Institute of Space Law

Kustantaja

American Institute of Aeronautics and Astronautics (AIAA)

Sivut

1375-1383

ISBN

978-1-61839-418-7

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.2514/6.IAC-03-U.P.02

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Ei