Electrostatic field limits and charge threshold for field induced damage to voltage susceptible devices
Julkaisuvuosi
2004
Tekijät
Paasi, Jaakko; Salmela, Hannu; Smallwood, Jeremy
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
2004 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
Konferenssi
26th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS/ESD 2004
Kustantaja
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
Sivut
229-237
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1109/EOSESD.2004.5272605
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei