undefined

Intercomparison of lateral scales of SEM and AFM microscopes in research institutes in Northern Europe

Julkaisuvuosi

2012

Tekijät

Seppä, S. Jeremias; Korpelainen, Virpi; Bergstrand, Sten; Karlsson, Helge; Lillepea, Lauri; Lassila, Antti

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Lassila Antti Orcid -palvelun logo

Seppä S. Jeremias Orcid -palvelun logo

Korpelainen Virpi Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Erillisteos

Yleisö

Ammatillinen

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

D4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

MIKES Publication

Kustantaja

Centre of Metrology and Accreditation (MIKES)

Numero

J1/2012

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Kyllä

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Kone- ja valmistustekniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä