undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Characterization and Identification of Defects in CdTe Detectors Using Scanning Laser Transient Current Technique

Julkaisuvuosi

2021

Tekijät

Kalliokoski, Matti; Bharthuar, Shudhashil; Brücken, Erik; Golovleva, Maria; Gädda, Akiko; Kirschenmann, Stefanie; Ott, Jennifer

Organisaatiot ja tekijät

Helsingin yliopisto

Gädda Akiko

Brücken Erik

Ott Jennifer

Golovleva Maria

Kalliokoski Matti

Bharthuar Shudhashil

Kirschenmann Stefanie

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Ei-vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

2020 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC)

Konferenssi

2020 Virtual IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference

Kustantaja

IEEE

Sivut

1-5

ISSN

1082-3654

ISBN

978-1-7281-7693-2

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Kyllä

DOI

10.1109/NSS/MIC42677.2020.9507842

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä