undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Characterization and Identification of Defects in CdTe Detectors Using Scanning Laser Transient Current Technique

Julkaisuvuosi

2021

Tekijät

Kalliokoski, Matti; Bharthuar, Shudhashil; Brücken, Erik; Golovleva, Maria; Gädda, Akiko; Kirschenmann, Stefanie; Ott, Jennifer

Organisaatiot ja tekijät

Helsingin yliopisto

Gädda Akiko

Brücken Erik

Ott Jennifer

Golovleva Maria

Kalliokoski Matti

Bharthuar Shudhashil

Kirschenmann Stefanie

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli:

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Ei-vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

2020 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC)

Konferenssi

2020 Virtual IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference

Kustantaja

IEEE

Sivut

1-5

ISSN

1082-3654

ISBN

978-1-7281-7693-2

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Kyllä

DOI

10.1109/NSS/MIC42677.2020.9507842

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä