undefined

Residual stress in thin films made by atomic layer deposition

Julkaisuvuosi

2016

Tekijät

Ylivaara, Oili; Puurunen, Riikka

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Ylivaara Oili Orcid -palvelun logo

Puurunen Riikka

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Posteri

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Yleisö

Tieteellinen

Julkaisukanavan tiedot

Konferenssi

HERALD WG2 Workshop & 4th Annual Seminar of Finnish Center of Excellence in Atomic Layer Deposition (ALDCoE)

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Ei