undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Machine Learning-based Defect Coverage Boosting of Analog Circuits under Measurement Variations

Julkaisuvuosi

2020

Tekijät

Xama, Nektar; Andraud, Martin; Gomez, Jhon; Esen, Baris; Dobbelaere, Wim; Vanhooren, Ronny; Coyette, Anthony; Gielen, Georges

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Andraud Martin Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli:

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti/Sarja

ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS

Kustantaja

ACM

Volyymi

25

Numero

5

Artikkelinumero

47

ISSN

1084-4309

Julkaisu­foorumi

50137

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Kyllä

DOI

10.1145/3408063

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä