undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Investigation of nonlinear effects in Doppler reflectometry using full-wave synthetic diagnostics

Julkaisuvuosi

2020

Tekijät

Krutkin, O. L.; Altukhov, A. B.; Gurchenko, A. D.; Gusakov, E. Z.; Heuraux, S.; Irzak, M. A.; Esipov, L. A.; Kiviniemi, T. P.; Lechte, C.; Leerink, S.; Niskala, P.; Zadvitskiy, G.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Niskala Paavo

Leerink Susan

Kiviniemi Timo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli:

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti/Sarja

PLASMA SCIENCE & TECHNOLOGY

Kustantaja

Institute of Physics Publishing

Volyymi

22

Numero

6

Artikkelinumero

064001

ISSN

1009-0630

Julkaisu­foorumi

77756

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1088/2058-6272/ab5c28

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä