Scanning X-ray spectrometer for high-resolution Compton profile measurements at ESRF
Julkaisuvuosi
1999
Tekijät
Suortti, P.; Buslaps, T.; Fajardo, P.; Honkimäki, V.; Kretzschmer, M.; Lienert, U.; McCarthy, J.; Renier, M.; Shukla, A.; Tschentscher, Th.; Meinander, Tor
Organisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Meinander Tor
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Volyymi
6
Numero
2
Sivut
69-80
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
2
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1107/S0909049599000291
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Ei