Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Julkaisuvuosi
2019
Tekijät
Tuomisto, Filip
Organisaatiot ja tekijät
Helsingin yliopisto
Tuomisto Filip
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Toimitustyö
Emojulkaisun tyyppi
Kokoomateos
Yleisö
Tieteellinen
Vertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
C2 Toimitettu kirja, kokoomateos, konferenssijulkaisu tai lehden erikoisnumeroJulkaisukanavan tiedot
Kustantaja
ISBN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object]
Julkaisumaa
Yhdistynyt kuningaskunta
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä