undefined

Improved crack growth corrections for J-R-curve testing

Julkaisuvuosi

2004

Tekijät

Wallin, Kim; Laukkanen, Anssi

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Laukkanen Anssi Orcid -palvelun logo

Wallin Kim

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Volyymi

71

Numero

11

Sivut

1601 - 1614

Julkaisu­foorumi

55271

Julkaisufoorumitaso

3

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1016/S0013-7944(03)00165-6

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Ei