Simulating atomic force microscopy imaging of the ideal and defected TiO<sub>2</sub> (110) surface
Julkaisuvuosi
2003
Tekijät
Foster, A. S.; Pakarinen, O.H.; Airaksinen, J.M.; Gale, J.D.; Nieminen, R. M.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti
Physical Review B
Kustantaja
American Physical Society
Volyymi
68
Numero
19
Artikkelinumero
195410
Sivut
1-8
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Kokonaan avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1103/PhysRevB.68.195410
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä