< Takaisin hakutuloksiin

Dynamical diffraction imaging of microdefects in silicon

Julkaisuvuosi

2000

Tekijät

Tuomi, T.; Rantamäki, R.; McNally, P.J.; Danilewsky, A.N.; Becker, P.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

X-TOP 2000 5th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Topography, Ustron-Jaszowiec, Poland, 13-15th September, 2000

Sivut

2

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä