Failure analysis of LED arrays using white beam synchrotron x-ray topography

Failure analysis of LED arrays using white beam synchrotron x-ray topography

Julkaisuvuosi

2000

Tekijät

Lowney, D.; McNally, P.J.; "O'Hare", M.; Herbert, P.A.F.; Tuomi, T.; Rantamäki, R.; Karilahti, M.; Danilewsky, A.N.

Organisaatiot ja tekijät

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä

Failure analysis of LED arrays using white beam synchrotron x-ray topography - Tiedejatutkimus.fi