Effects of electrostatic confinement in a silicon single-electron pump

Effects of electrostatic confinement in a silicon single-electron pump

Julkaisuvuosi

2014

Tekijät

Rossi, A.; Tanttu, T.; Tan, K. Y.; Zhao, R.; Chan, K. W.; Iisakka, I.; Tettamanzi, G. C.; Rogge, S.; Möttönen, M.; Dzurak, A. S.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Tan Kuan Orcid -palvelun logo

Möttönen Mikko Orcid -palvelun logo

Tanttu Tuomo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Konferenssi

CPEM digest

Kustantaja

IEEE

Artikkelinumero

6898448

Sivut

440-441

Julkaisu­foorumi

72992

Julkaisufoorumitaso

0

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1109/CPEM.2014.6898448

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä

Effects of electrostatic confinement in a silicon single-electron pump - Tiedejatutkimus.fi