White beam synchrotron x-ray topography and x-ray diffraction measurements of epitaxial lateral overgrowth of GaN
Julkaisuvuosi
2002
Tekijät
Chen, W.M.; McNally, P.J.; Jacobs, K.; Tuomi, T.; Danilewsky, A.N.; Lowney, D.; Kanatharana, J.; Knuuttila, L.; Riikonen, J.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Erillisteos
Yleisö
Ammatillinen
OKM:n julkaisutyyppiluokitus
D4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä