Interfacial Compatibility in Microelectronics: Away From the Trial and Error Approach
Julkaisuvuosi
2012
Tekijät
Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Turunen, Markus; Mattila, Toni T.; Paulasto-Kröckel, Mervi; Kivilahti, Jorma
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Erillisteos
Yleisö
Tieteellinen
Vertaisarvioitu
Vertaisarvioitu
OKM:n julkaisutyyppiluokitus
C1 Kustannettu tieteellinen erillisteosJulkaisukanavan tiedot
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä