Compound semiconductor detectors for X-ray astronomy: Spectroscopic measurements and material characteristics
Julkaisuvuosi
1997
Tekijät
Bavdaz, M.; Kraft, S.; Peacock, A.; Scholze, F.; Wedowski, M.; Ulm, G.; Nenonen, S.; Gagliardi, M.-A.; Gagliardi, T.; Tuomi, T.; Hjelt, Kari T.; Juvonen, M.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Materials Research Society Fall Meeting, Boston, USA, December 1-5, 1997
Sivut
565-572
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1557/PROC-487-565
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä