Electron Probe Microanalysis of Ni Silicides Using Ni-L X-Ray Lines
Julkaisuvuosi
2016
Tekijät
Llovet, Xavier; Pinard, Philippe T.; Heikinheimo, Erkki; Louhenkilpi, Seppo; Richter, Silvia
Organisaatiot ja tekijät
Aalto-yliopisto
Louhenkilpi Seppo
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Kustantaja
Volyymi
22
Numero
6
Sivut
1233-1243
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Materiaalitekniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1017/S1431927616011831
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä