undefined

Electron Probe Microanalysis of Ni Silicides Using Ni-L X-Ray Lines

Julkaisuvuosi

2016

Tekijät

Llovet, Xavier; Pinard, Philippe T.; Heikinheimo, Erkki; Louhenkilpi, Seppo; Richter, Silvia

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Louhenkilpi Seppo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Volyymi

22

Numero

6

Sivut

1233-1243

Julkaisu­foorumi

63345

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Materiaalitekniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1017/S1431927616011831

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä