Transimission electron energy-loss spectroscopy measurements of the dielectric function of Si/SiO2 multilayers

Julkaisuvuosi

1998

Tekijät

Keränen, J.; Lepistö, T.; Ryen, L.; Novikov, S.V.; Olsson, E.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli:

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti/Sarja

Journal of Applied Physics

Kustantaja

American Institute of Physics

Volyymi

Numero

Sivut

6827-6831

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Rinnakkaistallennettu

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object]

Tunnistettu aihe