undefined

Calibration method for near-field measurement used in reflectarray characterization

Julkaisuvuosi

2013

Tekijät

Mäkelä, Sampo; Tamminen, Aleksi; Ala-Laurinaho, Juha; Räisänen, Antti V.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Tamminen Aleksi Orcid -palvelun logo

Räisänen Antti Orcid -palvelun logo

Ala-Laurinaho Juha Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Kustantaja

IEEE

Sivut

183-187

Julkaisu­foorumi

70436

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka; Avaruustieteet ja tähtitiede; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka; Nanoteknologia; Geotieteet

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.23919/EuMC.2013.6686621

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä