Detailed scanning probe microscopy tip models determined from simultaneous atom-resolved AFM and STM studies of the TiO<sub>2</sub> (110) surface
Julkaisuvuosi
2008
Tekijät
Enevoldsen, Georg H.; Pinto, Henry P.; Foster, Adam S.; Jensen, Mona C.R.; Kühnle, Angelika; Reichling, Michael; Hofer, Werner A.; Lauritsen, Jeppe V.; Besenbacher, Flemming
Organisaatiot ja tekijät
Aalto-yliopisto
Foster Adam 
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti/Sarja
Kustantaja
Volyymi
78
Numero
4
Artikkelinumero
045416
Sivut
1-19
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
2
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Kokonaan avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Kone- ja valmistustekniikka; Ympäristötekniikka; Nanoteknologia
Avainsanat
[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1103/PhysRevB.78.045416
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä